很多工程測試中可能用到的方法就一種，現在給大家介紹A，B，C測試方法。
根據ANSI/TIA/EIA-526-14A標準，測試多模光纜鏈路的損耗，有兩種測試方法：方法A和方法B。
我們根據不同的應用，在測試時，使用不同的方法來設置參考值。
一般一條光纖鏈路由光纜、連接器和跳線組成。在測試中，一般認為跳線造成的損耗可以忽略不計，因此主要測試的目標為光纜以及鏈路中所包含的連接器所造成的損耗。
方法A所針對的光纜鏈路，其全部的衰減主要是由光纜和一個光配線架上的連接器所造成的，?這種測試方法，使用兩條用戶連接光纜和一個連接適配器連接至被測的光纜鏈路。兩條連接光纜和一個連接適配器作為參考值在測試中被排除。測試結果包括了被測光纜鏈路的損耗以及一個連接器的損耗。
這種光纖鏈路結構，主干上比較多見。
方法B
在這種鏈路結構中，兩個配架連接器的損耗是整個鏈路損耗的重要部分，因此比較適合室內光纜的測試。它在設置參考值時使用一條連接光纖測試每條光纜鏈路。
在這種方法中，實際測試結果還包括了一根額外的連接光纖，但是其長度非常短，可以忽略不計。由于這種測試方法包括了光纜本身和兩端連接器，是比較精確的光纜鏈路測試。也是我們在測試中用的最多的一種測試方法。
隨著SFF連接器的流行，測試儀器所帶的測試跳線和鏈路連接器接口不匹配的現象越來越普遍，因此我們現在推薦一種改進的方法B。它既能保持原來的精度（每次測量都包括光纜以及兩端的連接器），又避免了其在測試SFF連接器時的缺陷。它在參考設置時使用兩條連接光纖和一個連接器進行，結構類似于方法A，但在測試時包括了額外的帶連接器的一條短小的測試跳線。
改進的方法B所得到的損耗測試結果和ANSI/TIA/EIA-526-14A定義的方法B的結果是一致的，測試的鏈路比設置參考值時多兩個額外的適配器，測試結果包括了光纜的損耗和鏈路兩端連接器的損耗，這個損耗值是網絡實際硬件應用中所遇到的值。
這種方法可以使用不同類型的連接光纖連接測試儀和被測光纜鏈路，這對于現在越來越流行的微型連接器（SFF）的測試非常有用。使用這種方法，不需要在測試儀器端斷開連接光纜，從而減少了可能由于重新插入所導致的污染誤差或損壞測試儀器的光接口。
方法C
對于發射器和接收器直接通過光纜連接的鏈路結構，我們需要使用如下連接方法，用3根用戶跳線和兩個連接器設置參考值，跳線和連接器造成的損耗被扣除掉，測試的就是光纜造成的直接損耗了。這種方法多用了一根跳線，但由于跳線的損耗一般都被忽略不計的，因此這根多余的跳線認為不對測試結果造成影響。
測試時，需要注意以下幾點：
1．當從設置參考值轉換至測試設置時，需要將測試儀一端的連接光纜斷開，這時要注意不要斷開輸出或光源一端。如果斷開該連接，原來設置的參考值就失去意義了，不重新進行參考設置就會嚴重影響測試的結果。
2．在從測試儀測試（輸入）端斷開連接光纖時要非常小心，避免接頭處受到污染或測試儀器受到損壞。
3．測試儀器的連接器必須和被測光纜的連接器相同。
4．測試帶SFF連接器的光纖時應使用改進的方法B，并使用專門的從SFF到傳統接口的轉接跳線。
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