負損耗表示光纖鏈路不光沒有損耗，反而還有“增益”—當然這是不真實的。主要原因來自于以下各種偏差和誤差。

其一，在光源端口，光能量不都是 100%射入測試跳線中的，其“耦合效率”的高低與端口結構的幾何尺寸和幾何偏差有關，且與測試跳線插頭的幾何尺寸的“偏差”也有關。所以，歸零以后一般不允許再插拔測試跳線，否則會破壞端口耦合效率，如若不小心拔出了跳線，則必須重新歸零，只有這樣才能避免增大測試誤差。對短鏈路而言，歸零后插拔端口跳線會令損耗增加或“減少”—這導致出現測試結果為“負損耗”的現象。

其二，如果歸零時跳線端面附著有纖維屑或灰塵，但歸零后脫落，也可能會出現“負損耗”。

第三，開機未預熱就歸零，因儀器工作參數漂移而出現“負損耗”。一般建議預熱5 分鐘，溫差較大時應預熱 10 分鐘。

第四，歸零時跳線插拔不到位(損耗偏大)。

第五，如果歸零用的耦合器本身偏差較大(比如軸向對準偏差較大)，則歸零后測試短鏈路時也可能會出現負損耗。

第六，劣質測試跳線或跳線本身不穩定。

一條光纖鏈路的衰減值是不固定的，光纖越長，允許的衰減值就越大。同樣地，鏈路中的連接點和熔接點越多，則允許的衰減值也越大。福祿克FLuke DTX-1800-MS光纖認證儀器(認證型光功率計)會根據光纖的長度和操作者輸入的整條鏈路中的連接點/熔接點的數量自行計算允許的衰減值后設定一個最高極限值，凡是超過這個極限值的光纖鏈路就會被dtx1800ms判定為“失敗”。

由于很難預計光纖在其漫長的生命周期中會支持哪些具體的應用，故上述的極限值(標準值)是針對通用的光纖鏈路設計的，其對應的標準也是通用標準，比如GB5012-2007、ISO11801、TIA568C等。對于具體的某項應用，比如10G?Base-S，要求其使用OM3光纖時長度不能超過300米，衰減值不能超過2.6dB。針對萬兆鏈路10Gbase-S的標準被稱作應用型標準。請參見表一。建議：合同中明確規定選定的“通用”或“通用+應用”作為依據。

所以，光纖在施工完成后需要先采用通用型標準進行測試并存檔。如果確定現在或者近期肯定需要支持某種應用，則可以選擇相關應用標準進行檢測，如果不能確定具體應用，則可以留待以后(也許在10年后)在選用某種對應的應用時，進行開通/升級前的福祿克認證測試。