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升級10Gb光纖網絡，我們需要CertiFiber OptiFiber保駕護航

深圳連訊 — Mon, 31 Oct 2016 01:16:01 +0000

自光纖標準10GBASE-SR發布以來，將LAN中的骨干布線設施升級到支持10 Gb的活動已經持續了數年，但許多企業業務在此之前并不需要這種速度。

數據中心快速升級到25、40甚至100 Gb速率，以支持虛擬服務器數量的快速增加，從而容納比以往更多的應用以及需要訪問、發送和存儲的大量數據。同時，LAN中高速傳輸數據的需求也達到前所未有的高度，包括有線和無線連接。盡管大學和金融機構等大型企業已經升級了其LAN骨干網，但仍有大量其他機構才剛剛意識到1 Gb速率顯然不能滿足要求。現在散發的大多數資料信息都集中在將數據中心的光纖設施升級到支持40 Gb和100 Gb速率，但我們認為現在才升級到10 Gb的用戶不應該被遺忘，并且會從重新審視關鍵事項中獲益。

討論升級到10 Gb光纖速率時，歸根結底要看布線是否支持這樣的速率，有許多關于光纖類型和通道總長度的事項需要考慮。LAN骨干設施常用的多模光纖中，信號變差是由于模式色散造成的。發生模式色散時，光脈沖在一定距離內傳播并在不同的時間到達接收器，從而造成誤碼。這是高速傳輸的限制因素。較新型的光纖經過特殊設計以防止模式色散，舊型62.5?m多模光纖不在此列。采用這種光纖分布式數據接口(FDDI)級光纖的網絡在10 Gb速率下被限制到大約26米——很不切合實際的距離：大多數LAN骨干網一般要求接近300米的距離。為了達到要求的LAN骨干網絡距離，光纖就必須升級到激光優化的50?m多模光纖，OM3支持距離長達300米的10 Gb速率，OM4支持距離長達400米的10 Gb速率。

降低損耗

除了光纖類型和距離外，能夠真正說明骨干光纖是否支持10 Gb速率的關鍵參數是衰減。通過該參數，我們能夠知道一個端對端通道中的信號損耗達到多少，并且強度仍然足以支持應用。

盡管有些安裝方在1 Gb系統時憑僥幸沒有計算衰減，但當我們向10 Gb速率升級時，這種做法不可取。10 Gb通道的最大衰減量已經從1 Gb應用時的3.5dB降為2.6dB (850 nm OM3光纖)。衰減與許多因素有關——發送器中使用的光源、電纜類型、通道總長度、連接及接頭的數量和質量。對損耗影響最大以及妨礙10 Gb速率支持能力的最常見原因是光纖端面污染。電信機房并不總是最清潔的環境，夾在光纖端面之間的任何灰塵或碎屑都會造成信號損耗、背向反射甚至損害設備。無論哪種類型的光纖，正確的光纖清潔和檢查都是確保支持10 Gb所不可缺少的一部分。

即使您選擇了正確的電纜類型，并確信能夠接受距離限制以及最大程度清潔和檢查了光纖端面，但唯一能夠100%保證支持IEEE 802.3 10GBASE-SR應用的措施是對光纖鏈路進行認證。

使用CertiFiber ?Pro等光損耗測試儀(CFP-100-Q,CFP-100-S,CFP-100-M)測量衰減的1級測試是認證的方法之一，而使用OptiFiber ?Pro等光時域反射計(OFP-100-Q)進行2級測試則能夠給出光纖通道中每個元件(及光纖、連接器和接頭)的衰減，以及也可能影響損耗的事件，例如光纖彎曲。如果沒有OTDR，就很難發現并修復有些損耗源。為了便于認證，您需要測試儀能夠根據IEEE應用標準以及TIA和ISO/IEC規定的布線標準，給出合格或不合格結果。與計算衰減或花費數小時解讀OTDR軌跡相比，合格或不合格指示要容易得多、快速得多。幸運的是，CertiFiber Pro和OptiFiber Pro提供了這種功能。

福祿克OFP-100-Q測試儀SmartLoop一次測試兩根光纖

深圳連訊 — Fri, 09 Sep 2016 04:07:29 +0000

福祿克OFP-100-Q光纖測試儀SmartLoop OTDR 能夠在一次測試中自動測試和分析兩根光纖，同時滿足標準的要求。此套專利申請流程可自動根據單獨通過/失敗分析、顯示和報告將兩條光纖分離。它不僅可將測試時間至少減半，還能夠在無需將 OTDR 移至遠端點的情況下獲得即時雙向平均測試結果。SmartLoop 滿足標準對于在雙向測試中將接入光纖和尾纖留在初始位置的要求。由于 OTDR 無需移至遠端點，所以 SmartLoop OTDR 還能夠在很難到達遠端點甚至有危險的情況下進一步增強測試的容易度及速度。除了更快地完成任務之外，SmartLoop 還滿足標準對于在雙向測試中將接入光纖和尾纖留在初始位置的要求。

利用 SmartLoop 正確且快速地完成測試 – 在所有 OptiFiber Pro 模塊中均免費包含。

福祿克QFP-100-Q測試儀OptiFiber Pro OTDR 通過業界唯一的智能手機界面提高了光纖測試的高度，讓每一名技師都成為光纖專家。 DataCenter OTDR 配置可減少對數據中心光纖進行測試時所發生的不確定性和錯誤。其超短的死區允許在虛擬數據中心進行光纖跳線測試。這些功能，以及業界最快的掃描時間，使?OptiFiber Pro OTDR 成為您的必備工具。

福祿克FLUKE OFP-100-Q技術參數

深圳連訊 — Sun, 12 Jun 2016 01:13:23 +0000

福祿克FLUKE OFP-100-Q產品功能：

1、智能手機觸摸屏，感應手勢操作，可單指移動屏幕圖形，也可兩指放大、縮小操作

2、提供直觀、完整、精細的光纜鏈路透視圖：事件圖(直線示意圖)、事件表、OTDR曲線

3、強大的故障診斷能力：多模850/1300nm，事件死區低至0.5/0.7米，衰減死區低至2.2/4.5米；單模1310/1550nm，事件死區低至0.6/0.6米，衰減死區低至3.6/3.7米

3、支持光纖二級測試所需的“OTDR曲線+事件評估”功能，給出通過/失敗結果表，符合TSB568C General Fiber標準對連接點、熔接點損耗值評估的要求；快速直選的數據中心測試模式(“Data Center”測試模式)

4、按需自選OTDR自動/手動測試功能，方便快速、深入分析故障

5、快速查閱全部整合的關鍵信息(在儀器屏幕、PC報告中或打印的測試報告上均可)

6、提供光纖通道事件圖“Event?Map”，即使初學者或偶爾使用者也能看圖輕松定位故障

7、提供OTDR測試“事件表”，易讀易懂，大大提高故障分析速度，降低分析難度

8、支持插入250/400倍光纖視頻顯微鏡(選)，檢查光纖端截面的潔凈度和制造缺陷

9、簡便易用的數據管理，將豐富的報告內容和關鍵測試數據集于一體–包括OTDR、鏈路事件評估表、通道事件圖、端面視頻截圖等，簡捷、完整并符合TIA-606A標識管理標準

10、多任務管理目錄，可支持多達100個不同用戶單獨使用，測試結果互不干擾

11、支持首尾光纖連接頭的質量檢測(使用發射/接收補償光纖)，(選)

12、手持式工具設計，外形小巧輕便，堅固耐用，適合狹小擁擠的工作環境

福祿克FLUKE OFP-100-Q?產品技術規格：

1、測量波長：850nm +/-10nm，1300nm +35/-15nm，1310nm +/-25nm，1550nm +/-30nm

2、光纖類型：多模 50/125?m，62.5/125?m；單模 9?m

3、動態范圍：850nm 28dB，1300nm 30dB，1310nm 32dB，1550nm 30dB

4、測量范圍：多模850nm≤9km；1300nm≤35km；單模1310nm≤80km,單模1550nm≤130km

5、事件死區：850nm 0.5 m（典型）,1300nm 0.7 m（典型）；1310/1550nm 0.6m（典型）

6、衰減死區：850nm 2.2 m（典型）,1300nm 4.5 m（典型）；1310nm 3.6 m（典型），1550nm 3.7m（典型）

7、測試速度：自動MM 典型5秒，SM典型10 秒；快測設置 MM典型2秒，單模典型5秒；最佳分辨率設置MM 2~180秒，SM 5~180秒；FaultMap 設置 MM 2~180 秒（最大），SM 10 秒~180 秒（最大）；數據中心模式設置 DataCenter OTDR 設置：MM 1秒（一般在 850 nm），MM 7秒（最大）；SM 20 秒（一般），SM 40秒（最大）；手動設置 MM 3、5、10、20、40、60、90、120、180 秒， SM 3、5、10、20、40、60、90、120、180秒

8、實時追蹤率：2次/秒

9、采樣分辨率：3cm ~ 400cm

10、脈沖寬度：850nm 3、5、20、40、200ns ；1300nm 3, 5, 20, 40, 200, 1000 ns；1310/1550nm：3、10、30、100、300、1000、3000、10000、20000 ns

11、反射事件范圍：850 nm -14 ~ -57dB，1300nm -14 ~ -62dB，1310nm -14 ~ -65dB，1550nm -14 ~ -65dB

12、長度精度：±1±(0.00005 x長度)±(0.5 x分辨率)米，典型值，單多模

13、線性度：±0.003dB/dB 典型最大值

14、反射精度：850/1300nm ±4dB最大；1310/1550nm ±2dB最大

15、損耗門限設置：0.01dB~1.5dB，0.01dB步進值

16、顯示界面：彩色液晶觸摸屏屏，支持中文，英文

17、報告軟件：LinkWare(免費)

18、報告格式：支持PDF、XML

19、通道圖：Channel Map，識別短至0.5米的跳線(850nm)

20、測試接口：多模，PA-SC，UPC，可更換/可清洗；單模，PA-SC，UPC，可更換/可清洗

21、通訊接口：USB，USBmini，RJ-45

22、數據存儲：內置存儲器，典型2000個OTDR數據

23、電池使用時間：12小時，帶顯微鏡8小時，4~6小時充電時間，7.2V鋰離子電池

24、使用海拔：4000米，存儲海拔12000米

25、工作溫度： -18℃ ~ +45℃

26、存儲溫度： -30℃ ~ +60℃

27、工作濕度：0%~90%，0°C~35°C；0%~70%，35°C~45°C；無限制: -18°C~0°C

28、震動/跌落：隨機2G，5Hz~500Hz；1米跌落試驗

29、EMC：EN61326-1

30、OTDR激光安全：I類CDRH，EN60825-2

31、VFL激光安全：II類CDRH，EN60825-2

32、VFL功率：≤1mw

33、VFL波長：650nm±3nm，紅光

34、VFL輸出模式：連續，脈沖(2~3Hz閃爍)

35、VFL接頭適配器：2.5mm通用

36、重量：帶模塊和電池的總重量：1.28kg, 3lb，5oz，便于攜帶

37、尺寸：27.94 x 13.33 x 6.67 cm；11 x 5.25 x 2.625 in

福祿克OptiFiber PRO(OFP-100-Q)光纖測試儀端口測試

深圳連訊 — Mon, 09 May 2016 06:03:27 +0000

福祿克OptiFiber PRO(OFP-100-Q)光纖測試儀端口連接質量執行 OTDR 測試時，測試會顯示 OTDR（OFP-100-Q）端口連接的質量，如果測試用時超過大約 3 秒鐘，進度屏幕也將顯示 OTDR （OFP-100-Q）曲線的預覽。其中一個波長的曲線為黑色，另一個波長的曲線為藍色。

如果檢測計顯示值未處于良好范圍內

清潔福祿克OptiFiber PRO(OFP-100-Q)光纖測試儀端口和光纖接頭。使用視頻探頭檢查端口和光纖接頭的端面，查看是否有刮痕和其他損壞。如果測試儀上的端面顯示有損壞，請聯系 Fluke Networks 獲取服務信息。

如果檢測計顯示值位于良好范圍之外，從模塊上移除適配器并檢查適配器是否損壞。請確保中心管內的白色塑料環未出現任何損壞。

福祿克OptiFiber PRO(OFP-100-Q)光纖測試儀連接不良會增大接頭死區。死區可能會隱藏靠近 OTDR 連接器的故障。

連接不良也會降低來自 OTDR 的信號強度。較弱的信號會引起曲線上更多的噪音，這可能會導致 OTDR 丟失事件。它還會減小動態范圍。

當測試完成時，質量標尺在 EventMap 屏幕上顯示 OTDR 端口事件的詳細信息。測試儀將質量標尺信息與測試結果保存在一起。

福祿克OptiFiber PRO(OFP-100-Q)光纖測試儀端口連接質量標尺和進度屏幕

如何查找光纖故障？光纖故障定位測試

深圳連訊 — Wed, 30 Mar 2016 04:22:05 +0000

VFL(可視故障定位儀，Visual Fail Location，紅光筆)可以用漏光法原理檢測光纖過度彎曲、裂紋、損耗過大、插頭內部損壞等問題，幫助確定斷纖或標簽標記等錯誤。FindFiber光纖號碼筆也可以幫助查找無標簽標簽混亂的光纖鏈路。

福祿克FLUKE CFP-100-Q光纖一級測試因只能測得總損耗和/或長度超標，不能定位故障位置，多數時候需分段測試后才能框定故障的大致范圍。實際工作中，嘗試更換跳線和清潔鏈路中所有連接器的光纖端面可以消除 90%以上故障現象—雖然不知道故障到底發生在哪里。

福祿克OFP-100-Q OTDR 測試可以清晰地展現連接器、熔接點的損耗或反射是否符合要求，并精確定位損耗事件、反射事件的準確位置，這對于快速定位故障和高速光纖鏈路的品質保障尤為重要。由于過大的損耗事件、反射事件均會導致誤碼率上升，而不同傳輸速率的光脈沖誤碼率上升程度是不一樣的，所以，對于數據中心、智能建筑和園區網等高速短鏈路為特征的光纖布線鏈路，應使用高解析度的光時域反射計(HD-OTDR)來認證鏈路質量和發現、定位故障，使其遠離誤碼率開始波動的“邊界”，徹底清除引起誤碼率上升的“潛在事件”。對于數據中心，由于短鏈路、多跳接等情形較常見，要求 OTDR 的事件死區指標一般不應大于一米。?OTDR 還常用于測試鏈路的長度或定位光纖的斷纖位置，此為絕大多數 OTDR 的初始設計功能。另外，OTDR 也用于檢查、認證擬用光纖跳線是否符合要求(損耗和 ORL 反射)，復核進貨光纖的損耗率是否符合要求，檢驗連接器(耦合器、插座、法蘭等)的損耗是否合格等。

福祿克OFP-100-Q光纖測試儀技術參數

深圳連訊 — Tue, 27 Oct 2015 01:43:53 +0000

福祿克OFP-100-Q光纖測試儀技術參數

(1)設備功能

本設備是為局域網和城域網光纜設計，可以滿足最新光纜認證和測試需求的儀器。它將插入損耗和光纜長度測量、OTDR分析和光纜連接頭端接面潔凈度檢查集成在一臺儀器中，提供更高級的光纜認證和故障診斷。隨機附帶的LinkWare?PC軟件可以管理所有的測試數據，對它們進行文檔備案、生成測試報告。

(2)主要技術參數

功能	首創智能手機界面的OTDR，中文界面，多點觸摸屏
	全自動測試，以最快速的設定和追蹤時間加速光纖驗證
	證，業界最短事件和衰減死區
	支持自動端口質量檢測
	EventMapTM視圖簡化使用方式
	模塊化設計，便攜，輕巧
	LinkWare報告管理，支持測試結果統計
	通過項目和用戶的自定義配置提高資源利用率
	自定義項目文件夾
	獨特的”DataCe川er?OTDRTM”模式
波長:	850?nm?+/-?10?nm，?1300?nm?+35/-15?nm
波長:	1310?nm?+/-?25?nm，?1550?nm?+/-?30?nm
可測試光纜類型:	50/125μm
可測試光纜類型:	62.?5/125μm
事件死區:	850?nm?:?0.5?m(典型)
	1300?nm?:?0.7m(典型)
	1310/1550?nm?:?0.6?m(典型)
衰減死區:	850?nm?:?2.?5?m(典型)
	1300?nm?:?4.?5?m(典型)
	1310?nm?:?3.6?m(典型)
	1550?nm?:?3.?7?m(典型)
最大長度范圍:	850?nm?:?9?km，?1300?nm?:?35?km
最大長度范圍:	1310?nm?:?80?km，?1550?nm?:?130?km
測試速度:	自動OTDR?5秒
采樣間隔:	3?cm至400?cm
參考重量:	1.28kg
尺寸:	(6.67厘米x?13.?33厘米x27.?94厘米)
電池:	鋰離子電池
電池使用時間:	連續自動OTDR測試8小時

【福祿克】Fluke DSX-5000QOi Cable/ QUAD OTDR & Fiber Inspection測試儀

深圳連訊 — Fri, 07 Aug 2015 01:21:04 +0000

深圳連訊達專業銷售DSX-5000QOI光纖測試儀，21年專業經驗。福祿克Fluke DSX-5000QOi? CableAnalyzer OTDR提供網線測試儀認證對于Cat6A和Class FA，同時提供CFP-100-Q的QUAD 光損耗測試儀裝置以及OFP-100-Q光纖OTDR測試裝置。ProjeX ?系統可管理作業要求以及從項目設定到系統驗收的整個流程，進而確保正確完成所有測試任務，Taptive ?用戶界面可簡化設定過程并消除其間可能出現的錯誤。福祿克DSX-5000QOi通過圖形化的展示串擾，回波，屏蔽等故障根源。并且通過Linkware管理軟件形成專業報告。

【福祿克】Fluke DSX-5000QOi Cable/ QUAD OTDR & Fiber Inspection測試儀配置：

DSX-5000QOI：1 個 Versiv 主機和遠端、(2) 個 DSX-5000 CableAnalyzer 模塊、(2) 個 CertiFiber Quad OLTS 模塊、OptiFiber Quad OTDR 模塊、CAT 6A/EA 級永久鏈路適配器套裝、CAT 6A/EA 級渠道適配器套裝、(2) 個耳機、(2) 個手帶、(2) 個肩帶、硬質便攜包、USB 接口電纜、LinkWare 軟件 CD、AxTalk 軟件 CD、用戶手冊 CD、(2) 個交流電充電器、(2) 個通用耦合器、(2) 個 AxTalk 端接器、(2) 個一鍵式清潔器 (1.25/2.50 mm)、SC/SC Simplex 適配器、2 個 SC/LC 多模發射電纜—50 ?m、2 個 SC/LC 單模發射電纜—9 ?m、USB 光纖檢查視頻探頭及 4 個探尖、(2) 個 LC/LC Simplex 適配器、SC/LC 符合 EF 標準的 MM TRC 工具包 50 ?m、SC/SC SM TRC 工具包、TRC 便攜包、校準說明和操作手冊入門指南。

【福祿克】Fluke DSX-5000QOi Cable/ QUAD OTDR & Fiber Inspection測試儀金牌支持：

優點	標準保修期	金牌支持服務
現場技術支持及專用電話號碼		?
免費年度校準及返廠翻新		?
免費維修及“第一后備”優先周轉服務		?
借用設備服務*		?
免費附件更換**		?
終身回購保證		?
專門為會員提供的促銷活動		?
接洽技術支持團隊	網站和電子郵件	網站、電子郵件和電話
技術支持的響應時間	< 24 小時	< 2 小時
客戶支持 – 電話和電子郵件	早上 7 點至下午 5 點（太平洋標準時間）	24 x 7 x 365
主要案例受理	客戶服務	技術支持
在線培訓視頻、訪問知識庫、白皮書和最佳實踐指南	?	?
軟件和固件升級	?	?

福祿克OptiFiber PRO測試整卷光纖線路方案

深圳連訊 — Fri, 17 Jul 2015 05:23:47 +0000

如何更好的測試整箱光纖線。我們可以利用福祿克網絡的OptiFiber PRO系列的OFP-100-M測試多模，OFP-100-S測試單模，OFP-100-Q測試單多模。測試的時候千萬不要網絡兩端都測試，如果長度相同，代表整箱光纖線路是沒問題的，如果測試的長度不同，那么代表光纖線在中間有斷開的情況。需要引起注意。

我們在安裝光纜的時候，應該每卷光纖線都要測試，因為如果等你裝上去的時候，發現有問題將是非常大的麻煩。重新改正一條光纜的費用都大約重新鋪一條光纖了。如果你沒有福祿克的OptiFiber PRO光纖（OFP-100-M測試多模，OFP-100-S測試單模OFP-100-Q測試單模）的任一型號，那么可以使用福祿克SimpliFiber PRO光功率計進行測試，千萬不用Visifualt或者其他品牌紅光筆測試，因為即使光纖中部有損耗，在末端也能看到紅色光源

OptiFiber? Pro OTDR 通過業界唯一的智能手機界面提高了光纖測試的高度，讓每一名技師都成為光纖專家。 DataCenter OTDR 配置可減少對數據中心光纖進行測試時所發生的不確定性和錯誤。其超短的死區允許在虛擬數據中心進行光纖跳線測試。這些功能，以及業界最快的掃描時間，使?OptiFiber Pro OTDR 成為您的必備工具。

衰減死區與事件死區詳解 – 綜合福祿克OFP-100-Q測試儀

深圳連訊 — Tue, 07 Jul 2015 03:50:43 +0000

在高密度環境下測試多模光纖布線需要能夠測試超近距離連接器的專用 OTDR。福祿克的OptiFiber PRO可以針對短鏈路進行測試。單模為OFP-100-S，多模為OFP-100-M ，單多模為OFP-100-Q通常，這種連接器有高插入損耗和高反射。因此，除了有最高空間分辨率的 OTDR 之外，難以在所有測試中均使用 OTDR。這種類型的 OTDR 的核心是兩個組件，一個脈沖激光器和雪崩光電二極管 (APD)。電子元件的設計，更重要的是，選擇的 APD 的類型，決定了死區的性能。所有 OTDR 供應商均提供死區技術指標。但是，檢查死區時有幾個需要考慮的事項。首先，必須考慮死區是在什么條件下確定的技術指標。其次，死區如何隨反射的提高而變化很重要 – 這是供應商不會提供的技術指標。第三，實際光纖網絡中可以預期的死區性能。

死區技術指標
如圖 1 所示，衰減死區 (ADZ) 定義為（通常為單個“良好”連接器反射事件）脈沖上升沿到直接擬合到反向散射的 0.5 dB 偏差之間的距離。反向散射水平是曲線上提供光纖衰減值的斜線。此死區技術指標通常是在最佳條件下給出的，例如最短脈沖寬度和最佳連接器反射。ADZ 技術指標的目的是說明在連接器后多少距離能夠準確地測量損耗，根據此定義，可與前一連接器串連一根死區長度的跳接線以測量損耗。但實際上可能并不是這樣。

在圖 2 中，事件死區 (EDZ) 定義為（通常為單個“良好”連接器反射事件）兩個在反射峰以下 1.5 dB 的光標之間的距離。這代表了線性域中的半高全寬脈沖寬度。同樣，此死區技術指標通常是在最佳條件下給出的，即最短脈沖寬度和最佳連接器反射。EDZ 技術指標的目的是說明在連接器后多少距離能夠準確地測量長度。根據此定義，可與前一連接器串連一根死區長度的跳接線以測量長度。通常僅當兩個連接器均滿足設置 EDZ 的條件（即 -45 dB 反射）時才會是這種情況。任一連接器反射發生變化時，定義不再有效，死區增加。

兩種類型的死區通常均在一個高質量連接器上進行測量。對于單模的情況，可以使用 -52 dB 反射的連接器進行測量。在上圖中，“非飽和”表示低連接器反射，即在 OTDR 接收器中不會造成飽和和失真。反射高時，死區會因 APD 固有現象“拖尾”而增加。

實際死區應用

客戶對 OTDR 性能的預期可能與 OTDR 技術指標不符。技術指標有特定的條件，一般會在腳注上說明。深圳連訊達是專業從事福祿克儀器儀表的銷售400-688-2580。對于 OTDR，死區技術指標應僅限指定條件下的近端測量。死區相對測量長度應保持常數。死區是有限寬度發射脈沖的函數，隨著測量長度的增加而變寬（較長的長度測量使用寬脈沖）。除稍后將討論的少數情況外，死區均隨反射增加。提供的技術指標供用戶比較 OTDR 性能。但是死區指標是為一個事件定義的，而不是作為網絡測試。較成熟的 OTDR 不僅顯示一條曲線和事件表，它們還提供所測光纖布線的圖形“映射”。映射最初是在內建式 OTDR 中引入的，現在已被許多供應商采用。映射信息是從用于生成事件表的相同分析中得出的，但顯示為更容易使用的示意圖。測量超近距離的連接器時，分析儀軟件會達到極限，特別是每個連接器有不同的反射時（即完好的連接器跟一個有劃痕的連接器）。

下面是一個事件死區示例。事件死區設置為 1 米。光纖網絡在兩個較長的長度中間有一根 1 米的跳接線。用戶希望 OTDR 定位并識別這個 1 米跳接線并盡量進行損耗和反射測量。僅當滿足技術指標的條件時，OTDR 可以測量 1 米跳接線的長度；兩個反射均必須在技術指標腳注定義的范圍內。請記住事件死區只定位反射峰，所以無法進行損耗測量。在另一示例中，衰減死區聲明為 2 米。光纖網絡在兩個長度中間有一根 2 米的跳接線。用戶希望能夠測量跳接線的損耗。如果每個反射之后都有足夠的反向散射，如圖所示，則 OTDR 將可以進行測量。

在圖 3 中，識別了 1.94 米長度的第一個連接器及位置、損耗和反射。因為兩個連接器間距小，所以第一個脈沖之后的反向散射可能會有所限制。第二個脈沖可能會融合到第一個脈沖的反向散射中。這樣，測量的損耗是從第二個脈沖的反向散射到第一個脈沖前側的反向散射末端。因此，實際測量的是兩個脈沖的損耗。

在圖 4 中，1.94 米跳接線遠端的第二個脈沖無法識別，被標記為隱藏事件。這是因為第二個脈沖的開始被隱藏在第一個脈沖的反向散射中。因此無法對該事件進行充分測量。

圖 5 顯示如果脈沖之間有足夠的距離，則可輕松測量兩個反射處的連接器衰減。在這種情況下可以根據 OTDR 技術指標對衰減死區進行驗證。

另外，如果光纖網絡在兩根長光纖中間有一根 2 米跳接線，則可能無法進行可靠的測量，這是因為第一個連接器之后沒有足夠的反向散射（反射）進行直線近似。圖 6 顯示了兩個緊挨著的連接器，可能正好是衰減死區技術指標的長度。熟練的 OTDR 用戶可能可以手動測量兩個脈沖的衰減死區。但分析軟件則可能使用從第一個脈沖開始到第二個脈沖結束的反射散射之差測量第一個連接器（脈沖）的損耗。

光電二極管

OTDR 設計經常會在兩個波長之間共享一個光電探測器。OTDR 中經常使用 InGaAs 探測器在單模測試中探測 1310 nm 和 1550 nm。多模測試有兩個常見的選項。第一個是 850 nm 和 1300 nm 均使用 InGaAs 光電二極管。InGaAs 對 1300 nm 響應良好，但在 850 nm 有較低且經常未（由 APD 供應商）指定的響應。第二個選項是使用兩個光電二極管，一個 InGaAs 用于 1300 nm 多模，一個 Si（硅）用于 850 nm 多模。

Si 不僅在 850 nm 響應良好，而且與 InGaAs 設備相比有更高的內部增益（APD 的特性）。用于 OTDR 的光電二極管有稱為倍增因數的內部增益。該內部增益可以大幅提高與儀器動態范圍相關的信噪比。例如，InGaAs APD 的倍增因數可能為 30，而 Si APD 的倍增因數可能為 70。這意味著對于給定的反向散射水平，可以使用更窄的脈沖，從而大幅提高空間分辨率。

InGaAs 和 Si 的死區與反射對比

如前文所述，死區通常隨反射的增加而增加，這在使用 InGaAs 光電二極管時尤為麻煩。而 Si 要好得多。下面兩圖的數據來自使用 Si APD 或 InGaAs APD 的兩個 OTDR。InGaAs 數據雖然取自 1550 nm，但在任意波長（包括 850 nm）的死區響應類型都是一樣的。850 nm 和 1310 nm 使用了類似的脈沖寬度。

下面的數據顯示了使用 OTDR 中常用的 InGaAs 光電二極管時在 1550 nm 上死區和連接器之間的關系。圖 7 中的第一個圖形顯示了反射從典型 UPC 連接器的值 (-45 dB)? 增加到高反射連接器（如臟連接器）時的 850 nm 事件死區 (EDZ) 和衰減死區 (ADZ)。數據顯示 EDZ 未受反射的影響。這是因為測量是在非飽和峰下執行的。如果峰變飽和（即“平頂”），則 EDZ 會增加，但這與 OTDR 的設計有關。對于 ADZ，從 2 米到 2.75 米逐漸增加，但在 -26 dB 反射處有一個偏轉，且反射為 -25 dB 時 ADZ 增加到 4.5 米。盡管在這個范圍上 ADZ 有增加，但仍比使用 InGaAs APD 時 ADZ 的結果好得多，如圖 8 所示。

圖 8 顯示了在反射增加時 InGaAs APD 的 1550 nm 死區性能。此圖形顯示了反射從典型 UPC 連接器 -51 dB? 增加到高反射連接器 -30 dB（如臟連接器）時的 EDZ 和 ADZ。EDZ 不受反射影響，但 ADZ 慢慢從 4.5 米增加到 5 米（在 15 dB 范圍），然后在 -30 dB 快速增加并達到超過 30 米 ADZ。ADZ 將隨著反射的增加繼續增加。除非為單模 OTDR 進行了復雜的配置，否則使用 InGaAs APD 時它們都會受此現象的影響。

總結

與用于 OTDR 的 InGaAs APD 相比，Si APD 在 850 nm 測量多模時可提供卓越的性能。Si APD 有更好的信噪比，可以對安裝的光纖布線使用窄脈沖詢問和分析。因連接器的高反射造成光過載時，Si APD 受到的拖尾影響要小得多。進行光纖網絡測試時，高反射大概是 OTDR 最常見的問題。數據顯示部署了 Si APD 的 OTDR 與其他類型 OTDR 相比有更大性能優勢，特別是在高分辨率應用中。雖然高性能 OTDR 可能價格較高，但對于比較 OTDR 供應商提供技術指標的用戶來說，除非使用高反射進行評估，否則無法明確看出是否使用了 Si APD。

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