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OTDR：光纖測試方案（短光纖測試）及OM4光纖介紹

首先來看一下當前數據中心的情況，10G已經不是什么新鮮事物了，而介質這塊，銅纜雙絞線也開始6A化，光纖也逐步升級，而數據中心里的大部分光纖鏈路都小于200米，這使得基于VCSEL的850nm光收發器可以被大量使用，配合OM3光纖，光纖方案的成本更為降低，也使OM3成為萬兆速率數據中心的首選。

如表格1表格2所示，OM3光纖（MM50 um MBW=2000），在同樣插入損耗的情況下，與OM2 和OM1光纖相比，OM3光纖的傳輸距離可以更遠。而通道最大距離與模式帶寬和通道最大插入損耗相關。例如，對于一個使用850nm OM3光纖的300米10GBase-SR鏈路而言，所能被允許的最大插入損耗是2.6分貝，而在1000BASE-SX網絡中則為3.56分貝，可以預見隨著速率不斷提升，損耗這塊的要求也越來越高了。而即使是在這2.6分貝的最大允許損耗中，也被分為光纖本身所固有的損耗，以及光纖連接和連接器損耗。

伴隨數據中心TIA-942推行的結構化光布線系統的發展，在帶來靈活易用的同時，也對光纖測試帶來了新的內容，引入的結構化布線，增加了連接器件，對接頭連接器的插入損耗有了更高的要求。

那么下面先來談一下數據中心短光纖的測試面臨的新的問題：

從目前光纖鏈路的測試來看，主要分成兩個等級，第一等級為OLTS測試，第二等級為OTDR測試；從實際驗收來看更多的采用的是OLTS測試，即光源和光表的測試方式，其原因除了測試設備相對價格低廉有關外，也和其使用簡易程度有關，相對來說，使用第二級別的OTDR測試儀需要更專業的知識，需要讀懂OTDR的曲線圖，并且判定故障原因，這絕非簡單培訓就可以上手的工作。

另外，不論部署結構化光布線網絡，還是模塊化高密度MPO方案時，多模光纖都被大量運用，此時用光纖元件標準測試通過，而用應用標準測試則不一定過，兩類標準門限值有所不同，測試時選標準不當，也會給后續網絡運行埋下故障隱患。

???????? 不僅如此，在選用OTDR（Optical Time Domain Reflectometer,簡稱OTDR）測試儀時，死區的問題也是不能忽略的一大問題，OTDR的死區分為事件死區和衰減死區，事件死區代表OTDR所能檢測到的光纜的最短長度。死區越短，可檢測到的光纜長度就越短。如果事件死區比被測的光纜長度要短，那么就可以使用OTDR來測試這條鏈路。而衰減死區一般要大于事件死區，它的定義是可以測得的連續兩個事件插入損耗數值的最小距離。

數據中心內網絡的光纜鏈路通常都非常短，同時通道里還會有多個連接器和短的跳線。在進行光纜測試時，應該使用具有短事件死區和衰減死區的OTDR測試儀。

例如，假設正在測試的光纜鏈路包含一根三米長的跳線，如果你的OTDR事件死區指標為5米，OTDR 將會只檢測到跳線的起始端，而檢測不到終點。如果您使用的OTDR 事件死區為2 米，您就可以同時看到跳線的兩端。這時你就可以正確地測量鏈路中安裝的跳線的長度并進行文檔備案。

針對上述數據中心短光纖鏈路測試中的問題，那么具體如何進行測試呢？

建議可以按如下幾個原則進行測試：

1.?????? 用OLTS（Optical Loss Test Set，簡寫OLTS）光源、光表測量鏈路損耗，用OTDR測量長度。由于使用光源、光表測量鏈路損耗接近于標準損耗測量方法，最接近真實網絡運行狀況，所以損耗測量精度可以得到保障。而單單通過OTDR測試儀進行損耗測試，因為原理上它是借助測量背向瑞利散射光，距離越遠，測量精度越難以保障。而在OTDR測試儀的量程選擇上也非越大越好，一般選為被測光纖長度的兩倍以上，如設置太大，會增加測試時間，并會增加測量誤差。脈寬選擇也需要做限制，寬脈沖發射光功率大，測的距離遠，信噪比好，但測距空間分辨率低；而窄脈沖信噪比差，測距空間分辨率高，因此，一般測短距離光纖選窄脈沖，長距離時才選寬脈沖。

2.?????? OLTS測試時，使用卷軸，這樣在實際測試是，可以濾除高次模，提高測試穩定性，避免測試結果出現時大時小，不穩定的狀況，當然測試前需要在做基準