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OTDR測(cè)試中，出現(xiàn)負(fù)損耗【偽增益】

發(fā)布日期：2016年01月04日   瀏覽次數(shù)：20次   編輯：深圳連訊

OTDR測(cè)試中，出現(xiàn)負(fù)損耗？首先出現(xiàn)負(fù)損耗肯定是不正常的，這種負(fù)損耗的現(xiàn)象也叫偽增益。往往出現(xiàn)在熔接點(diǎn)等位置。以下案例是我們通過福祿克OTDR的OFP-100-Q測(cè)試結(jié)果。

上圖為福祿克OTDR測(cè)試結(jié)果圖片（371.55M出現(xiàn)負(fù)損耗即偽增益點(diǎn)）

上圖福祿克OFP-100-Q測(cè)試的曲線圖

我們可以看出在370多米處，可以看到曲線往上走，代表不僅沒有信號(hào)衰落，反而信號(hào)增加。在此次問題解決故障中，原因是因?yàn)槿劢拥膯栴}，重新熔接故障解決了。

我們從原理分析，為什么會(huì)出現(xiàn)偽增益呢？

偽增益的簡(jiǎn)析 ：偽（正）增益現(xiàn)象是指OTDR的背向散射曲線會(huì)出現(xiàn)上升臺(tái)階，根據(jù)OTDR的瑞利散射原理及菲涅爾反射原理，我們知道偽增益是由于事件點(diǎn)之后反射回OTDR的背向反射光功率高于事件點(diǎn)前反射回的。事實(shí)上，光脈沖通過事件點(diǎn)始終會(huì)存在損耗，不可能有真的增益出現(xiàn)。?光纖事件點(diǎn)損耗包括光纖本征因素引起的和外界因素引起的兩部分。外界因素主要有軸心錯(cuò)位、軸向傾斜、縱向分離和纖芯變形等，事件點(diǎn)上的因外界因素導(dǎo)致的損耗無論從哪個(gè)方向測(cè)試應(yīng)該是一樣的。因此導(dǎo)致偽增益的主要原因是光纖的本征因素，而本征因素影響最大的當(dāng)屬模場(chǎng)直徑。?在實(shí)際工作中對(duì)光纖鏈路進(jìn)行測(cè)試時(shí)，由于被測(cè)光纖的模場(chǎng)直徑、背向散射系數(shù)等幾乎都不會(huì)完全相同，所以從兩個(gè)方向測(cè)試的結(jié)果一般是有差異的，因此，在用OTDR對(duì)光纖事件點(diǎn)損耗進(jìn)行測(cè)試時(shí)應(yīng)當(dāng)取雙向測(cè)試的平均值更為精確。

 

本文關(guān)鍵字: OTDR, 偽增益, 故障, 正增益, 負(fù)損耗
原創(chuàng)標(biāo)題：OTDR測(cè)試中，出現(xiàn)負(fù)損耗【偽增益】
原文鏈接：http://www.whjsdny.com/archives/otdr-negative-loss.html
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