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OTDR測試中，出現負損耗【偽增益】

OTDR測試中，出現負損耗？首先出現負損耗肯定是不正常的，這種負損耗的現象也叫偽增益。往往出現在熔接點等位置。以下案例是我們通過福祿克OTDR的OFP-100-Q測試結果。

上圖為福祿克OTDR測試結果圖片（371.55M出現負損耗即偽增益點）

上圖福祿克OFP-100-Q測試的曲線圖

我們可以看出在370多米處，可以看到曲線往上走，代表不僅沒有信號衰落，反而信號增加。在此次問題解決故障中，原因是因為熔接的問題，重新熔接故障解決了。

我們從原理分析，為什么會出現偽增益呢？

偽增益的簡析 ：偽（正）增益現象是指OTDR的背向散射曲線會出現上升臺階，根據OTDR的瑞利散射原理及菲涅爾反射原理，我們知道偽增益是由于事件點之后反射回OTDR的背向反射光功率高于事件點前反射回的。事實上，光脈沖通過事件點始終會存在損耗，不可能有真的增益出現。?光纖事件點損耗包括光纖本征因素引起的和外界因素引起的兩部分。外界因素主要有軸心錯位、軸向傾斜、縱向分離和纖芯變形等，事件點上的因外界因素導致的損耗無論從哪個方向測試應該是一樣的。因此導致偽增益的主要原因是光纖的本征因素，而本征因素影響最大的當屬模場直徑。?在實際工作中對光纖鏈路進行測試時，由于被測光纖的模場直徑、背向散射系數等幾乎都不會完全相同，所以從兩個方向測試的結果一般是有差異的，因此，在用OTDR對光纖事件點損耗進行測試時應當取雙向測試的平均值更為精確。